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装置一覧
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| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| 核磁気共鳴装置（NMR、600MHz） |
JEOL RESONANCE製 ECZL-600 |
機器分析サテライト1 |
| 核磁気共鳴装置（NMR、400MHz） |
JEOL RESONANCE製 ECZL-400G |
機器分析サテライト1 |
| 核磁気共鳴装置（NMR、300MHz） |
JEOL RESONANCE製 ECZ-300R |
機器分析サテライト1 |
| 核磁気共鳴装置（NMR、400MHz） |
Bruker AV400（液体専用） |
機器分析サテライト2 |
| 核磁気共鳴装置（NMR、600MHz） |
JEOL ECZL-600 |
機器分析サテライト2 |
| 電子スピン共鳴装置（ESR） |
JEOL X330 |
機器分析サテライト2 |
| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| 有機微量元素分析装置（CHNSO） |
Elementar,vario EL cube |
極微量物質分析室 |
| 波長分散型蛍光X線分析装置（WDXRF） |
Bruker, S8 Tiger(1kw) |
極微量物質分析室 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） |
Bruker, M4 TORNADO+ S26 |
極微量物質分析室 |
| 蛍光X線分析装置（XRF） |
HORIBA, XGT-5000 |
機器分析サテライト1 |
| X線光電子分光分析装置（XPS） |
Thermo Fisher Scientific Theta Probe |
機器分析サテライト1 |
| X線光電子分光分析装置（XPS） |
島津製作所 AXIS-ULTRA |
機器分析サテライト2 |
| 電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） |
JEOL JXA-8530F |
機器分析サテライト1 |
| 電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） |
島津製作所 EPMA-1720HT |
機器分析サテライト2 |
| オージェ電子分光分析装置（AES） |
ULVAC-PHI PHI 710 |
機器分析サテライト1 |
| オージェ電子分光分析装置（AES） |
JEOL JAMP-9510F |
機器分析サテライト1 |
| 高周波パルスグロー放電分光分析装置（GD-OES） |
HORIBA JOBIN YVON, GD-Profiler 2 |
極微細物質構造解析室 |
| 高周波パルスグロー放電分光分析装置（GD-OES） |
HORIBA JOBIN YVON, GD-Profiler 2 |
機器分析サテライト1 |
| 単結晶X線装置（SC-XRD） |
Bruker, D8 QUEST |
機器分析サテライト2 |
| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| 二重収束質量分析計（MS） |
日本電子 JMS-700 |
極微量物質分析室 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計1（GC-MS1） |
Agilent 6890N, 5975C |
極微量物質分析室 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計2（GC-MS2） |
Agilent 8890, 5977C |
極微量物質分析室 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計3（GC-MS3） |
Agilent 8860, 5977B |
極微量物質分析室 |
| 誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS） |
Agilent 8800 |
極微量物質分析室 |
| 高分解能質量分析計（HR-MS） |
AB Sciex TripleTOF 5600+ |
極微量物質分析室 |
| プロテオーム解析用質量分析装置 |
Thermo Fisher Scientific, Q Exactive Plus |
機器分析サテライト2 |
| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計1（GC-MS1） |
Agilent 6890N, 5975C |
極微量物質分析室 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計2（GC-MS2） |
Agilent 8890, 5977C |
極微量物質分析室 |
| ガスクロマトグラフ質量分析計3（GC-MS3） |
Agilent 8860, 5977B |
極微量物質分析室 |
| 高速液体クロマトグラフ（HPLC） |
Agilent 1290 InfinityⅡ LCシステム |
極微量物質分析室 |
| イオンクロマトグラフ |
メトローム Basic IC plus 883 |
極微量物質分析室 |
| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| 原子吸光分析装置 |
ThermoFisher iCE3500 |
機器分析サテライト2 |
| 誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP-OES） |
ThermoFisher iCAP6500 |
機器分析サテライト2 |
| 誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS） |
Agilent 8800 |
極微量物質分析室 |
| 装置名 |
型式 |
設置場所 |
| 顕微レーザーラマン分光装置（RAMAN） |
日本分光 NRS-5100 |
極微量物質分析室 |
| フーリエ変換赤外分光光度計（赤外顕微鏡, FT-IR） |
日本分光 FT/IR 6300、IRT-7000 |
極微量物質分析室 |
| フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR） |
ThermoFisher Nicolet6700 |
機器分析サテライト2 |
| 蛍光光度分光計 |
日立ハイテク F-7000 |
機器分析サテライト2 |