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東北大学 工学部・工学研究科 技術部

合同計測分析班

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極微細物質構造解析室(B01室) 管理装置

   
FE-TEM FE-TEM/STEM LOW-TEM
FE-SEM FE-SEM/EBSP XRD
AFM/SPM GD-OES イオンミリング装置
回転研磨装置
(ハンディラップ)
精密回転研磨装置 回転研磨装置
(ダイヤラップ)
低速精密切断器 カーボンコーター メタルコーター
プラズマエッチング
親水化処理装置
イオンクリーナー 真空含浸装置
精密ディンプルグラインダー ミクロトーム卓上切断機

業績リスト


  • 業績リスト(査読付き学術論文一覧)

  • FE-TEM(透過電子顕微鏡)

    FE-TEMの画像
    機種 Hitachi HF-2000
    加速電圧 200 kV
    分解能 0.20 nm
    電子銃 冷陰極電界放出型(Cold-FEG)
    プローブモード TEM
    用途 局所領域における構造解析(明視野像、暗視野像、高分解能像、電子線回折)
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考 試料が観察用グリッド(φ3mm)に固定されている、もしくは薄片化されている必要があります。試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル HF-2000操作マニュアル1, HF-2000操作マニュアル2

    FE-TEM/STEM(電界放出型透過電子顕微鏡)

    FE-TEM/STEMの画像
    機種 JEOL JEM-2100F
    加速電圧 200 kV
    分解能 粒子像:0.19 nm, 格子像:0.1 nm
    電子銃 ショットキー型FE電子銃
    プローブモード TEM, STEM
    付属装置 エネルギー分散型X線分光器(EDX)
    検出元素:B~U
    エネルギー分解能:133 eV
    走査透過電子顕微鏡(STEM)
    高精細ボトムマウントCCDカメラ
    各種試料ホルダー
    ベリリウム2軸傾斜
    用途 局所領域における構造解析(明視野像、暗視野像、高分解能像、電子線回折)、元素分析(点、マッピング、定性、定量)
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考 試料が観察用グリッド(φ3mm)に固定されている、もしくは薄片化されている必要があります。試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。

    LOW-TEM(低加速電圧透過型電子顕微鏡)

    LOW-TEMの画像
    機種 Hitachi HT-7500
    加速電圧 100 kV
    分解能 粒子像:0.36 nm, 格子像:0.20 nm
    電子銃 LaB6、W
    プローブモード TEM
    付属装置 ボトムマウントCCDカメラ
    用途 局所領域における構造解析(明視野像、暗視野像、電子線回折)
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考 試料が観察用グリッド(φ3mm)に固定されている、もしくは薄片化されている必要があります。試料準備については担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル HT-7500操作マニュアル

    FE-SEM(走査電子顕微鏡)

    FE-SEMの画像
    機種 JEOL JSM-6500F
    加速電圧 3-30 kV
    分解能 1.5 nm
    電子銃 ショットキー電子銃(Thermal)
    観察モード 二次電子、反射電子、凹凸像
    付属装置 エネルギー分散型X線分光器(EDX)
    反射電子検出器
    用途 セラミックスや金属などの形態観察、元素分析(点、マッピング、定性、定量)
    担当者 宮崎
    注意事項 原則的に各自操作になります。初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けて下さい。なお、講習時間は、基本操作から分析・解析まで約1.5時間になります。
    備考 試料が完全乾燥していること、且つ試料表面が導電状態である必要があります。不明な場合は担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル JSM-6500F操作マニュアル

    FE-SEM/EBSP(電界放出型走査電子顕微鏡)

    FE-SEM/EBSPの画像
    機種 JEOL JSM-7100F
    加速電圧 1-30 kV
    分解能 1.2nm (@30kV), 3.0nm (@1kV)
    電子銃 ショットキー電子銃(Thermal)
    観察モード 二次電子、反射電子、結晶方位マップ(IPF, IQ, G.B.マップ)
    付属装置 エネルギー分散型X線分光器(EDX-SDD)
    反射電子検出器
    結晶方位解析装置(EBSD)
    用途 セラミックスや金属などの形態観察、元素分析(点、マッピング、定性、定量)
    担当者 宮崎
    注意事項 原則的に各自操作になります。初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けて下さい。なお、講習時間は、基本操作から分析・解析まで約1.5時間になります。
    備考 試料が完全乾燥していること、且つ試料表面が導電状態である必要があります。不明な場合は担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル JSM-7100F操作マニュアル, EBSD操作マニュアル(初級者用, 中級者用

    XRD(デスクトップX線回折装置)

    XRDの画像
    機種 Rigaku MiniFlex600/600-C
    線源 CuKα 600 W X線管
    検出器 1次元検出器
    ゴニオメーター 半径 150 mm
    用途 X線回折を用いた結晶構造測定
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考 現在調整中

    AFM/SPM(走査プローブ顕微鏡)

    AFM/SPMの画像
    機種 SII Nanocute
    測定モード AFM,DFM,Current (Nano, Pico)
    検出方法 自己検知方式、光てこ方式
    分解能 X, Y:10 nm以下、Z:0.5 nm以下
    用途 試料表面局所領域における形態観察
    担当者 宮崎
    注意事項 原則的に各自操作になります。初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けて下さい。講習時間は概ね2時間です。
    備考 試料の大きさ、形状に制限があります。担当者までお問い合わせ下さい。
    粗さの指標
    操作マニュアル AFM-DFM操作マニュアル(自己検知モード)

    GD-OES(マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置)

    GD-OESの画像
    機種 HORIBA JOBIN YVON, GD-Profiler 2
    発光部 高周波出力:0-300W、パルス制御:1〜100Hz、ガス圧力:0〜1000Pa
    検出部 光電子増倍管
    分光部 ポリクロメータ、モノクロメータ
    アノード径 φ4mm(標準)
    対象元素 H~
    用途 高周波パルスグロー放電により試料をスパッタエッチングし、試料から放出されたスパッタ粒子をグロー放電中で励起発光させ、これを分光することによって、深さ方向での元素の定性・定量分析を行う。
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考 供試体全体が導電性、かつ分析対象面が平滑平坦であることが望ましい。

    イオンミリング装置

    イオンミリングの画像
    機種 GATAN PIPS Model 691
    イオン化エネルギー 0.5-6.0 keV
    ビーム照射角度 0.5-10°
    ビーム径 約350μm at 5keV
    ガス Ar
    用途 透過型電子顕微鏡用試料(TEM)の薄膜化
    研磨面の最終仕上げ
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 試料厚50μm以下でTEMメッシュに固定されている必要があります。不明な場合は担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル PIPS691 操作マニュアルイオンミリング試料加工

    回転研磨装置(ハンディラップ)

    ハンディラップの画像
    機種 LaboPol-5(丸本ストルアス)
    回転数 50 - 500 rpm
    研磨紙 #240 - #8,000
    用途 顕微鏡観察用試料の薄片化または面出し
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。

    精密回転研磨装置

    精密回転研磨装置の画像
    機種 M-Prep5(ALLIED)
    回転数 最大 500 rpm
    研磨紙 φ200
    用途 顕微鏡観察用試料の薄片化または面出し
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。

    回転研磨装置(ダイヤラップ)

    ダイヤラップの画像
    機種 ML-150P(マルトー)
    回転数 30 - 150 rpm
    研磨剤 コロイダルシリカ、ダイヤモンドスラリー
    用途 顕微鏡観察用試料などの鏡面研磨
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。

    低速精密切断器(回転カッター)

    低速精密切断器の画像
    機種 ミニトム(丸本ストルアス)
    回転数 100 - 420 rpm
    切断ホイール直径 100 - 127 mm
    用途 材料微細構造検査用試料やセラミックス試料などの切断
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。

    カーボンコーター

    カーボンコーターの画像
    機種 CC-40F
    コーティング方法 加熱蒸着
    ターゲット カーボン
    膜厚 数nm - サブミクロン(圧力、ステージ位置により可変)
    用途 主に電子顕微鏡観察用の帯電防止
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル カーボンコータ 使用手順

    メタルコーター

    メタルコーターの画像
    機種 JFC-1500
    コーティング方法 スパッター
    ターゲット 金、白金
    膜厚 数nm - サブミクロン(スパッタ圧により可変)
    用途 主に電子顕微鏡観察用の帯電防止
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル メタルコータ 使用手順

    プラズマエッチング親水化処理装置

    プラズマエッチングの画像
    機種 SEDE-MN
    使用ガス 窒素、酸素
    用途 試料表面の汚染除去、カーボンメッシュの親水化処理など
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 担当者までお問い合わせ下さい。
    操作マニュアル プラズマエッチング親水化処理 使用手順

    イオンクリーナー

    イオンクリーナーの画像
    機種 JIC-410 (JEOL)
    放電方式 水平電極型
    ターゲット カーボン
    真空チャンバ 外径118mm×高さ37mm
    用途 グロー放電を用いた試料上に付着した炭化水素系汚染物の除去
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 試料の大きさ、形状に制限があります。担当者までお問い合わせ下さい。

    真空含浸装置

    真空含浸装置の画像
    機種 Cast N
    使用時圧力 7×104 Pa
    用途 試料の樹脂埋め、固定
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 試料の大きさ、形状に制限があります。担当者までお問い合わせ下さい。

    精密ディンプルグラインダー

    精密ディンプルグラインダーの画像
    機種 Gatan Model656
    試料台回転速度 10 rpm
    研磨ホイール速度 0 ~ 600 rpm 連続可変
    負荷 0 ~ 40g 連続可変
    最終試料厚み 10μm
    用途 主に電子顕微鏡観察用の試料薄片化処理
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考 研磨剤などの消耗品はこちらでも用意しておりますが、数量に限りがありますので使用状況によりご持参いただくことがあります。詳細は担当者までお問い合わせ下さい。

    ミクロトーム

    ミクロトームの画像
    機種 Leica VT1000 S
    仕様 振動型ミクロトーム
    試料サイズ 最大70 x 40 x 15 mm
    試料上下ストローク 最大15㎜
    セクショニング範囲 最大40㎜
    用途 顕微鏡観察用サンプルの薄片切断
    担当者 宮崎
    注意事項 使用に際しては、担当者までお問い合わせください。
    備考

    卓上切断機

    卓上切断機の画像
    機種 メイハン MUS-4SA
    回転数 400 - 3000 rpm
    切断ホイール直径 100 mm
    用途 材料微細構造検査用試料やセラミックス試料などの切断
    担当者 宮崎
    注意事項 初めて利用する場合は、必ず担当者から操作講習を受けてください。
    備考
    HTML & CSS template by CSSデザインテンプレート