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東北大学 工学部・工学研究科 技術部

合同計測分析班

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装置一覧

電子顕微鏡・原子間力顕微鏡 核磁気共鳴装置・電子スピン共鳴装置
元素分析装置 質量分析計
クロマトグラフ 原子吸光・ICP
分光分析装置 粒度分布測定装置
窒素・リン分析装置 全有機炭素計

※この一覧にご希望の装置が見つからない場合は、東北大学テクニカルサポートセンターもご参照ください。

電子顕微鏡・原子間力顕微鏡

装置名 型式 設置場所
透過電子顕微鏡(FE-TEM) Hitachi HF-2000 極微細物質構造解析室
透過電子顕微鏡(FE-TEM/STEM) JEOL JEM-2100F 極微細物質構造解析室
透過電子顕微鏡(LOW-TEM) Hitachi HT-7500 極微細物質構造解析室
透過電子顕微鏡(TEM) JEOL JEM-ARM200F 機器分析サテライト1
透過電子顕微鏡(TEM) JEOL JEM-2100 (HR) 機器分析サテライト1
透過電子顕微鏡(TEM) JEOL JEM-2100 (HC) 機器分析サテライト1
電界放出型走査透過電子顕微鏡(FE-STEM) 日立ハイテク HD-2700 機器分析サテライト2
走査電子顕微鏡(FE-SEM) JEOL JSM-6500F 極微細物質構造解析室
走査電子顕微鏡(FE-SEM/EBSP) JEOL JSM-7100F 極微細物質構造解析室
走査電子顕微鏡(FE-SEM) Philips (現FEI) XL-30FEG 機器分析サテライト1
走査電子顕微鏡(FE-SEM) JEOL JSM-7800F 機器分析サテライト1
走査電子顕微鏡(FE-SEM) JEOL JXA-8530F 機器分析サテライト1
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 日立ハイテク S-4800 機器分析サテライト2
卓上型走査電子顕微鏡(卓上SEM) 日立ハイテク TM3000 機器分析サテライト2
走査プローブ顕微鏡(AFM/SPM) SII Nanocute 極微細物質構造解析室
複合ビーム加工観察装置 JEOL JIB-4600F 機器分析サテライト1
FIB試料仕上げ加工装置 Fischione Nanomill 1040 機器分析サテライト1
電子顕微鏡用試料処理装置 各種 極微細物質構造解析室
イオンミリング Gatan PIPS Model691 機器分析サテライト1

核磁気共鳴装置・電子スピン共鳴装置

装置名 型式 設置場所
核磁気共鳴装置(NMR、600MHz) JEOL RESONANCE製 ECA-600 機器分析サテライト1
核磁気共鳴装置(NMR、300MHz) JEOL RESONANCE製 ECA-300 機器分析サテライト1
核磁気共鳴装置(NMR、500MHz) Bruker DRX500(液体専用) 機器分析サテライト2
核磁気共鳴装置(NMR、400MHz) Bruker DPX400(液体専用) 機器分析サテライト2
核磁気共鳴装置(NMR、400MHz) Bruker AV400(液体専用) 機器分析サテライト2
電子スピン共鳴装置(ESR) JEOL X330 機器分析サテライト2

元素分析装置

装置名 型式 設置場所
有機微量元素分析装置(CHNSO) Elementar,vario EL cube 極微量物質分析室
波長分散型蛍光X線分析装置(WDXRF) Bruker, S8 Tiger 極微量物質分析室
蛍光X線分析装置(XRF) HORIBA, XGT-5000 機器分析サテライト1
X線光電子分光分析装置(XPS) Thermo Fisher Scientific Theta Probe 機器分析サテライト1
X線光電子分光分析装置(XPS) 島津製作所 AXIS-ULTRA 機器分析サテライト2
電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) JEOL JXA-8530F 機器分析サテライト1
電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 島津製作所 EPMA-V6 機器分析サテライト2
オージェ電子分光分析装置(AES) ULVAC-PHI PHI 700 機器分析サテライト1
高周波パルスグロー放電分光分析装置(GD-OES) HORIBA JOBIN YVON, GD-Profiler 2 機器分析サテライト1

質量分析計

装置名 型式 設置場所
二次イオン質量分析装置(SIMS) CAMECA IMS-7f 極微細物質構造解析室
二重収束質量分析計(MS) 日本電子 JMS-700 極微量物質分析室
ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS) Agilent 6890N, 5975C 極微量物質分析室
誘導結合プラズマ質量分析計(ICP-MS) Agilent 8800 極微量物質分析室
高分解能質量分析計(HR-MS) AB Sciex TripleTOF 5600+ 極微量物質分析室
プロテオーム解析用質量分析装置 Thermo Fisher Scientific, Q Exactive Plus 機器分析サテライト2

クロマトグラフ

装置名 型式 設置場所
ガスクロマトグラフ(GC) 島津製作所 GC-2010 極微量物質分析室
ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS) Agilent 6890N, 5975C 極微量物質分析室
高速液体クロマトグラフ(HPLC) Agilent 1200 極微量物質分析室
イオンクロマトグラフ Thermo Fisher Scientific Integrion 機器分析サテライト3
イオンクロマトグラフ メトローム Basic IC plus 883 極微量物質分析室

原子吸光・ICP

装置名 型式 設置場所
原子吸光分析装置 ThermoFisher iCE3500 機器分析サテライト2
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-OES) ThermoFisher iCAP600 機器分析サテライト2
誘導結合プラズマ質量分析計(ICP-MS) Agilent 8800 極微量物質分析室

分光分析装置

装置名 型式 設置場所
顕微レーザーラマン分光装置(RAMAN) 日本分光 NRS-5100 極微量物質分析室
フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡, FT-IR) 日本分光 FT/IR 6300、IRT-7000 極微量物質分析室
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) ThermoFisher Nicolet6700 機器分析サテライト2
蛍光光度分光計 日立ハイテク F-7000 機器分析サテライト2

粒度分布測定装置

装置名 型式 設置場所
粒度分布測定装置 スペクトリス株式会社マルバーン事業部 MASTERSIZER 3000 機器分析サテライト3

窒素・リン分析装置

装置名 型式 設置場所
窒素・リン分析装置 BLTEC, Auto Analyzer II 機器分析サテライト3
形態別窒素・リン分析装置 BLTEC, QuAAtro 2HR 機器分析サテライト3

全有機炭素計

装置名 型式 設置場所
全有機炭素計 島津製作所 TOC-L 機器分析サテライト3
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